德国TopMap Metro.Lab 是一种高精度白光干涉仪（相干扫描干涉仪），具有大的垂直范围和纳米分辨率。这意味着 Metro.Lab 外形测量系统非常适合非接触式测量大面积表面和结构，甚至是柔软和精密材料的平面度、台阶高度和平行度。

    作为一个完整的测量站，TopMap Metro.Lab 是您想要测量几乎所有表面上的大面积外形的上乘解决方案。即使在困难条件下，70mm 的大垂直测量范围也允许您使用亚纳米分辨率进行测量。

    由于 TopMap Metro.Lab 物超所值，无论是用于计量实验室或是靠近生产现场的地方，都非常具有吸引力。它可以处理许多您以前使用触觉系统进行处理的任务。与所有TopMap系统一样，开放式的软件架构还允许您编制常规任务或设置自己的用户界面。

产品亮点：

    1、由于光学干涉测量原理，它属于非接触式
    2、远心镜头让测量陡峭部分（例如钻孔）成为可能
    3、70 mm 的范围，非常灵活
    4、快速测量大面积
    5、增强版的大面积测量范围可达约 80 x 80 毫米
    6、易于使用的自动化软件，生成 DIN / ISO 合规性参数
    7、具有智能表面扫描功能，适用于几乎所有表面，即使是那些具有参差不齐反射率的表面
    8、可集成在防尘防振工作站中，用于机器大厅

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